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集成电路封装与测试 杭州朗迅科技股份有限公司 组编;主编 卢 高等教育出版社
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商品名称:集成电路封装与测试
ISBN:9787040613827
出版社:高等教育出版社
出版年月:2024-07
作者:杭州朗迅科技股份有限公司 组编;主编 卢
定价:49.80
页码:304
装帧:平装
版次:1
字数:400
开本:16开
套装书:否

本书是职业教育“岗课赛证”融通教材,也是集成电路职业标准建设系列教材之一、集成电路1+X职业技能等级证书系列教材之一。

本书主要包括导论、模拟芯片LM1117塑料封装、模拟芯片LM1117测试、数字芯片74LS138金属封装、数字芯片74LS138测试、存储器芯片封装与测试等内容,融入集成电路封装与测试岗位、“集成电路开发及应用”职业院校技能大赛、“集成电路开发与测试”“集成电路封装与测试”1+X职业技能等级证书要求,充分体现“岗课赛证”融通。

教师如需获取本书授课用PPT等配套资源,请登录“高等教育出版社产品信息检索系统”(https://xuanshu.hep.com.cn)免费下载。

本书可作为高等职业本科、专科院校集成电路类、电子信息类专业相应课程的教材,也可作为集成电路相关行业及企业员工的培训教材,还可供工程技术人员参考使用。

前辅文
导论
  0.1 产业链分析
  0.2 创新链分析
  0.3 人才链分析
  0.4 教育链分析
  0.5 结语
项目一 模拟芯片LM1117塑料封装
  任务1.1 LM1117前道封装
  任务1.2 LM1117后道封装
  拓展与提升
项目二 模拟芯片LM1117测试
  任务2.1 LM1117晶圆测试
  任务2.2 LM1117成品测试
  拓展与提升
项目三 数字芯片74LS138 金属封装
  任务3.1 气密性封装
  任务3.2 金属封帽
  拓展与提升
项目四 数字芯片74LS138 测试
  任务4.1 74LS138 晶圆测试
  任务4.2 74LS138 成品测试
  拓展与提升
项目五 存储器芯片封装与测试
  任务5.1 封装类型比选
  任务5.2 存储器芯片晶圆测试
  任务5.3 存储器芯片成品测试及分选
  拓展与提升
参考文献

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