购物车中还没有商品,赶紧选购吧!
集成电路先进封装技术 张建华、路秀真、杨连乔 高等教育出版社
商品价格
定价
手机购买
商品二维码
配送
北京市
数量

推荐商品

  • 商品详情
手机购买
商品二维码
价格:
数量:
库存   个

商品详情

商品名称:集成电路先进封装技术
ISBN:9787895660328
出版社:高等教育出版社
出版年月
作者:张建华、路秀真、杨连乔
定价:30.00
页码
装帧
版次:1版1次
字数:150 千字
开本
套装书:否

本书共分为10章,第1章为集成电路封装的简介。第2章为集成电路封装中涉及的材料、力学、热学和电磁学基础知识。第3章为集成电路封装工艺基础,包括芯片减薄与切割、芯片贴片与互连、芯片成型技术等。第4章介绍集成电路封装的基本形式。第5章介绍晶圆级封装技术。第6章为多芯片封装技术。第7章为3D封装,主要介绍3D封装的特点和类型、TSV技术、TGV技术以及3D封装发展趋势。第8章主要介绍2.5D封装技术。第9章主要介绍集成电路封装缺陷和检测。第10章为封装可靠性与失效分析。 本书凝结上海大学“集成电路封装”课程十余年的教学成果,为适应教育数字化趋势,本书采用数字教材的形式,全面展示集成电路封装技术,更好地服务课堂教学。 本书可作为微电子科学与工程、电子科学与技术等专业的本科生“集成电路封装”相关课程的教材,建议授课学时为40学时。同时,本书也可供集成电路领域及相关专业技术人员参考使用。

第1章 集成电路封装概述
  1.1 集成电路封装的定义与作用
  1.2 集成电路封装的发展
  1.3 集成电路封装的特点
  1.4 集成电路先进封装技术
  习题
  参考文献
第2章 集成电路封装基础
  2.1 封装的材料基础
  2.2 封装的力学基础
  2.3 封装的热学基础
  2.4 电磁设计基础
  习题
  参考文献
第3章 集成电路封装工艺基础
  3.1 封装工艺概述
  3.2 晶圆减薄
  3.3 晶圆切割
  3.4 芯片贴装
  3.5 芯片互连
  3.6 成型技术
  3.7 去飞边毛刺
  3.8 上焊锡
  3.9 切筋成型
  3.10 打码
  3.11 封装质量检验标准
  习题
  参考文献
第4章 集成电路封装的基本形式
  4.1 集成电路封装形式
  4.2 气密性封装与非气密性封装
  4.3 组装技术
  习题
  参考文献
第5章 晶圆级封装
  5.1 芯片尺寸封装
  5.2 晶圆级封装概述
  5.3 扇入型晶圆级封装
  5.4 扇出型晶圆级封装
  5.5 晶圆级封装技术的发展
  习题
  参考文献
第6章 多芯片封装技术
  6.1 HIC封装技术
  6.2 MCM封装技术
  6.3 SiP封装技术
  习题
  参考文献
第7章 3D 封装技术
  7.1 3D封装的背景与优势
  7.2 3D封装的结构类型与特点
  7.3 TSV工艺
  7.4 玻璃通孔技术(TGV)
  7.5 3D封装的应用、面临挑战与发展趋势
  习题
  参考文献
第8章 2.5D封装与芯粒技术
  8.1 2.5D封装
  8.2 中介层技术
  8.3 芯粒技术
  习题
  参考文献
第9章 封装质量检测与评估
  9.1 封装缺陷概述
  9.2 封装缺陷类型
  9.3 检测手段
  习题
  参考文献
第10章 封装可靠性与失效分析
  10.1 可靠性基础知识
  10.2 可靠性测试方法与种类
  10.3 失效分析的基本概念
  10.4 失效分析的一般流程
  10.5 失效分析技术的选择
  习题
  参考文献

对比栏

1

您还可以继续添加

2

您还可以继续添加

3

您还可以继续添加

4

您还可以继续添加