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专用集成电路设计技术 主编 韩雁 高等教育出版社
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商品名称:专用集成电路设计技术
ISBN:9787895663473
出版社:高等教育出版社
出版年月
作者:主编 韩雁
定价:48.00
页码
装帧
版次:1版1次
字数:500 千字
开本
套装书:否

      本教材是一本系统讲述专用集成电路设计理论、方法与实践的综合性教材
      教材共分为四部分。第一部分为基本的IC设计技术背景知识、通用与专用集成电路概念等基础知识;第二部分介绍了MATLAB在IC系统设计中的应用、数模混合IC的电路设计与仿真验证、专用集成电路的版图设计方法、芯片设计与应用实例、ASIC的可编程器件实现方法以及PDK开发等方面的知识;第三部分为经典的模拟IC设计及其工具的使用;第四部分为经典的数字IC设计及其工具的使用。本教材将PPT的讲解、EDA工具的使用指导等均做了数字化加工,方便读者通过音视频的方式学习。此外,本教材还配有习题、参考答案和缩写术语的英汉对照表。

       本教材内容深入浅出,适合初涉IC设计领域的本科生、研究生和对之感兴趣的读者阅读,其中第二部分还适用于对IC设计领域相对熟悉的读者。

专业术语英文缩写对照表
第一章 专用集成电路设计技术背景知识
  1.1 从IT业讲起
  1.2 摩尔定律及其伟大意义
  1.3 相关名词术语及其关系
  1.4 IC产业集群
  1.5 IC产业链与垂直产业分工
  1.6 发展芯片产业的重要性
  1.7 初识芯片
  1.8 国际国内半导体龙头企业排行榜
  1.9 中国本土集成电路产业的发展状况
  1.10 集成电路设计师的人才培养之路
  思考题和习题
第二章 通用与专用集成电路概念
  2.1 通用集成电路产品分类
  2.2 专用集成电路(ASIC)概念及其设计流程
  2.3 ASIC设计中的关键参数
  2.4 ASIC开发成本
  思考题和习题
第三章 IC系统仿真及其工具软件MATLAB
  3.1 集成电路设计的一般流程
  3.2 系统级建模工具——MATLAB
  3.3 Simulink电子系统仿真工具
  3.4 基本类型系统的建模
  3.5 Simulink中的子系统
  3.6 利用MATLAB进行IC设计
  思考题和习题
第四章 数模混合信号电路设计与仿真验证
  4.1 数模混合信号电路设计与验证的背景
  4.2 数模混合信号电路设计与验证流程
  4.3 进阶操作
  思考题及习题
第五章 专用集成电路的版图设计方法
  5.1 全定制版图设计方法
  5.2 标准单元法
  思考题及习题
第六章 芯片设计与应用实例
  6.1 成倍微缩漏电保护器ASIC芯片的面积
  6.2 在没有PDK的情况下完成射频芯片的设计与实现
  6.3 设计的芯片性能可能超出了测试设备的天花板
  6.4 芯片应用电路的设计以及国标检测
  思考题及习题
第七章 ASIC的可编程器件实现方法
  7.1 只读存储器 (ROM) 系列
  7.2 PROM(用户现场编程)
  7.3 可编程逻辑器件(PLD)系列
  7.4 复杂可编程逻辑器件CPLD
  7.5 现场可编程门阵列(FPGA)系列
  思考题与习题
第八章 PDK及其开发
  8.1 集成电路设计方法背景知识
  8.2 PDK基础知识
  8.3 IPDK的安装方式
  8.4 IPDK模型文件
  8.5 技术文件
  8.6 CDF参数
  8.7 回调函数
  8.8 Pcell器件
  8.9 DRC文件
  思考题与习题
第九章 模拟IC模块电路的设计与验证
  9.1 模拟IC设计需具备的条件
  9.2 模拟IC设计受非理想因素的影响
  9.3 模拟IC电路的仿真验证实例
  思考题及习题
第十章 模拟IC电路仿真及其工具软件
  10.1 模拟IC设计背景
  10.2 Linux系统命令
  10.3 Cadence中的Spectre仿真
  思考题及习题
第十一章 模拟IC版图绘制验证与后仿真
  11.1 典型的CMOS工艺流程简介
  11.2 设计规则简介
  11.3 Virtuoso软件简介及使用
  11.4 版图验证与后仿真简介
  11.5 版图验证规则文件
  11.6 Calibre 验证工具的使用
  11.7 Spectre视图生成及后仿真
  思考题及习题
第十二章 制造工艺的离散性对模拟IC的影响
  12.1 克服电阻离散的方法
  12.2 离散的修调问题
  思考题及习题
第十三章 一种亚阈值低功耗IC设计技术
  13.1 亚阈值电路及C类反相器
  13.2 亚阈值IC的优缺点
  13.3 亚阈值IC抗PVT涨落的方法
  思考题及习题
第十四章 数字IC底层逻辑单元的设计
  14.1 非门、或非门、与非门
  14.2 与或非门、或与非门
  14.3 三态门、传输门
  14.4 多路选择器(MUX)
  14.5 异或门(XOR)、同或门(XNOR)
  14.6 D触发器(DFF)
  14.7 锁存器
  14.8 半加器、全加器
  14.9 乘法器、平方器
  14.10 标准输入/输出(I/O)单元
  14.11 通用双向I/O单元
  14.12 I/O与外部世界的连接
  思考题及习题
第十五章 数字IC的软件仿真与FPGA硬件验证
  15.1 数字IC的仿真验证
  15.2 测试激励产生器testbench
  15.3 FPGA硬件验证
  15.4 FPGA设计流程
  思考题及习题
第十六章 逻辑综合及其工具软件
  16.1 逻辑综合工具Design Compiler
  16.2 逻辑综合流程
  思考题及习题
第十七章 数字IC自动布局布线及可制造性检查
  17.1 数据输入
  17.2 布图规划
  17.3 布局
  17.4 布线
  17.5 可制造性设计和物理验证
  思考题及习题
第十八章 数字集成电路可测性原理与设计
  18.1 IC测试的概念
  18.2 样品测试与产品测试的不同
  18.3 电路可测性的定量分析
  18.4 组合电路的可测性设计
  18.5 时序电路的可测性设计
  思考题及习题
思考题和习题参考答案

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